蔡司 Xradia Synchrotron 解決方案將納米級 X 射線成像技術(shù)引入到同步輻射實驗室中，讓耗時且耗費財力的自主研發(fā)成為過去。專屬的 X 射線光學(xué)器件和成熟的三維 X 射線顯微技術(shù)，使超亮的可調(diào) X 射線光束在現(xiàn)代化的同步輻射實驗室內(nèi)得以綜合應(yīng)用。借助優(yōu)于30 nm 的分辨率在多種襯度模式下完成快速的非破壞性三維成像。Xradia Synchrotron 系列包含成像和掃描顯微鏡，覆蓋從軟 X 射線到硬 X 射線的寬波長范圍。

Xradia 800 Synchrotron：硬 X 射線納米斷層成像技術(shù)
三維 X 射線斷層成像能夠提供內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)體積數(shù)據(jù)，而無需對感興趣的區(qū)域進(jìn)行切割或切片處理。工作能量范圍為 5-11 keV，可利用 <30 nm 的分辨率對不同種類的樣品成像，包括電池和燃料電池的電極材料、催化劑及軟硬組織等。Xradia 800 Synchrotron 是先進(jìn)技術(shù)的理想之選 ，如用于三維化學(xué)分布和原位成像的 XANES 光譜學(xué)-顯微成像技術(shù)，能夠讓您在實際操作環(huán)境條件下研究材料特性。

Xradia 825 Synchrotron：軟 X 射線納米斷層成像技術(shù)
在軟 X 射線波長范圍內(nèi)完成三維斷層成像，包括能量從“水窗”波段到2.5 keV 的中能波段，非常適合于完整細(xì)胞和組織的結(jié)構(gòu)成像。低溫樣品處理可以實現(xiàn)對含水樣品進(jìn)行成像，在盡可能保持樣品接近自然狀態(tài)的情況下，更大限度地減少輻射損傷的影響。其他應(yīng)用還包括有機(jī)和無機(jī)材料的化學(xué)態(tài)分布及磁疇成像。

Xradia 835 Synchrotron：X 射線熒光顯微技術(shù)
硬 X 射線納米探針非常適合于借助超高靈敏度進(jìn)行痕量元素分布和定量分析的應(yīng)用。這類應(yīng)用可能包含金屬和功能性納米顆粒在健康與疾病領(lǐng)域中的效用、植物內(nèi)攝入的重金屬、太陽能電池及其它功能性材料中的污染和缺陷。Xradia 835 Synchrotron 是一套靈活且可擴(kuò)展的平臺，它將蔡司波帶片光學(xué)器件與 X 射線熒光、光譜和衍射等已有的分析技術(shù)相結(jié)合。低溫樣品處理能在需要高分辨率成像的生命科學(xué)應(yīng)用中更大限度地減少輻射損傷的影響。